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3.2 現行的幾種研究半導體致冷器可靠性的試驗方法

3.2.1極性切換試驗:  該項試驗主要考察熱應力對致冷器壽命的影響。
試驗方法: 20℃~80℃,正向通電5分鐘再反向通電5分鐘為一周期。

 

3.2.2 高溫存儲試驗: 該項試驗主要考察有害元素擴散對致冷器壽命的影響。
試驗方法:公司現在進行90℃和150℃兩種高溫存儲試驗。

 

3.2.3低溫存儲試驗: 該項試驗主要考察制冷器中各種材料的低溫特性。
試驗方法:公司現在進行-40℃低溫存儲試驗。

 

3.2.4溫度沖擊試驗: 該項試驗主要考察熱應力對致冷器壽命的影響。
試驗方法:70 ℃(30 min)/ -55 ℃(30min), 轉換時間1min, 5個循環

 

3.2.5沖擊試驗:該項試驗主要考察致冷器對外力沖擊的承受能力。
試驗方法:高度25cm,方向X,Y,Z方向各1回合計3回。


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